Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Proyecto Final Integrador
| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | |
| Formato: | Texto completo |
| Idioma: | Español |
| Publicado em: |
Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
2018
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| Acesso em linha: | https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 |