Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Proyecto Final Integrador
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Texto completo |
| Lingua: | Español |
| Pubblicazione: |
Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
2018
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 |