Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Proyecto Final Integrador
| 1. Verfasser: | Garraza, María Soledad |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | Vega, Daniel |
| Format: | Texto completo |
| Sprache: | Español |
| Veröffentlicht: |
Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
2018
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 |
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