Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /
Collectivité auteur: | |
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Format: | Livre |
Langue: | Español Inglés |
Publié: |
Buenos Aires :
IRAM,
2009.
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Sujets: |
Biblioteca Escuela de Economía y Negocios:
Cote: |
658.40130218 N8421.E 2009 |
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