Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo:	Instituto Argentino de Normalización y Certificación
Formato:	Libro
Idioma:	Español Inglés
Publicado:	Buenos Aires : IRAM, 2009.
Materias:	Control de calidad. Optimización Muestreo. Norma. Normalización.

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