Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Formato: | Livro |
| Idioma: | Español Inglés |
| Publicado em: |
Buenos Aires :
IRAM,
2009.
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| Assuntos: |
Biblioteca Escuela de Economía y Negocios:
| Área/Cota: |
658.40130218 N8421.E 2009 |
|---|---|
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