Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /
| Autor Corporativo: | |
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| Formato: | Libro |
| Idioma: | Español Inglés |
| Publicado: |
Buenos Aires :
IRAM,
2009.
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| Materias: |
| Notas: | Traducido de: Sampling system for inspection by attributes. "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 1 y 2 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 0. "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 0 y 2 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 1. "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 0 y 1 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 2. Pte. 0, 2009 ; pte. 1-3, 2010. |
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| Descripción Física: | 1 v. en 4 : graf. ; 30 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |