Caracterización eléctrica y modelado de memorias no volátiles basadas en óxidos /

Détails bibliographiques
Auteur principal: Ghenzi, Néstor
Collectivités auteurs: Universidad Nacional de General San Martín. Instituto de Tecnología Prof. Jorge A. Sabato, Centro Atómico Constituyentes
Format: Thèse Livre
Langue:Español
Publié: 2014.
Collection:Trabajos de graduación (doctorado). Doctorado en Ciencia y Tecnología, mención Física.

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